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基于斜面结构的XPS分析作为有机半导体复杂界面结构的非破坏性化学探针( Bevel Structure Based XPS Analysis as a Non‐Destructive Chemical Probe for Complex Interfacial Structures of Organic Semiconductors )
argon gas cluster ion beam bevel structures organic bulk heterojunctions X‐ray photoelectron spectroscopy
氩气团簇离子束斜面结构有机体异质结X射线光电子能谱
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