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扩散器晶粒尺寸对散斑跟踪技术的影响( Influence of diffuser grain size on the speckle tracking technique )
N Tian H Jiang A Li D Liang Z Zhang SPECKLE PHASE CONTRAST DARK FIELD GRAIN SIZE RESOLUTION
基于散斑的X射线成像技术(SBT)包括吸收、相衬和暗场三种成像方式，在许多领域有着广泛的应用。然而，漫射器的晶粒尺寸、X射线源的相干性和探测器的像素尺寸对SBT多模成像质量的影响仍然令人悲哀地不清楚。本文对整个SBT过程进行了仿真并讨论了这三个因素对图像质量的影响。基于此讨论，SBT应用的扩散器晶粒尺寸应受探测器像素尺寸和X射线源相干长度的限制。根据对噪声信号和相关图的分析，合适的晶粒尺寸是获得高质量SBT图像必不可少的条件，因为过小或过大的晶粒尺寸会降低成像结果的分辨率并产生假信号。此外，测量的原始散斑图案的功率谱密度表明，较小的颗粒能够更好地保留来自成像样品的高频信息。仿真和实验结果验证了这些结论。本工作的结论将有助于设计适合于SBT应用的实验装置，并有可能提高SBT在其他应用中的性能，如X射线光学计量和相干测量。
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