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摘要:(110)n-Si在NH4F水溶液中各向异性腐蚀的原子尺度解析:原位扫描隧道显微镜研究( ChemInform Abstract: Atomic-Scale Elucidation of the Anisotropic Etching of (110) n-Si in Aqueous NH4F: Studies by in situ Scanning Tunneling Microscopy )
J. H. YE K. KAJI K. ITAYA technology of materials, lasers, semiconductors, superconductors polarization, electrode processes, photoelectrochemistry silicon, Si surface chemistry electric properties, superconductors, semiconductors
材料技术，激光，半导体，超导体极化，电极过程，光电化学硅，硅表面化学电性能，超导体，半导体
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