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六面体单元电阻式随机存取存储器的并行模拟( Parallel Simulation of Resistive Random Access Memory with Hexahedral Elements )
TY Li W Chen DW Wang Q Zhan WY Yin
本文利用自行研制的并行计算模拟器对电阻式随机存取存储器(RRAM)的电热性能进行了研究。为了节省计算量,采用三维六面体单元对结构进行离散。首先考察了内部仿真器的有效性,然后根据仿真结果对RRAM阵列的热串扰效应进行了研究。
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