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多组分表面和界面的可靠工作函数测定:静电势在紫外光电子能谱中的作用( Reliable Work Function Determination of Multicomponent Surfaces and Interfaces: The Role of Electrostatic Potentials in Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy )
T Schultz T Lenz N Kotadiya G Heimel N Koch electronic materials microcontact printing nanostructured materials photoelectron spectroscopy work function
紫外光电子能谱(UPS)是通过测量二次电子截止量(SECO)来确定表面功函数(Φ)的关键技术。然而,UPS获得的SECO光谱对多组分表面的解释并不直接,而且不均匀性的长度尺度对SECO的影响程度也没有得到全面的理解。在这里,本研究通过实验和理论上确定具有一定φ图案的表面上的静电景观,揭示了控制SECO能量分布的物理机制。对于这类样品,测量的SECO光谱实际上呈现出两个截止点,一个代表高的φ表面分量,另一个对应于面积平均的φ值。通过结合Kelvin探针力显微镜和静电模拟,定量地证明了高φ区的静电势对低φ区发射的电子产生了额外的能垒。实验进一步验证了感生能垒与Φ-图形长度、尺度和样品偏置的关系。这些发现为非均匀表面的可靠SECO解释和提高UPS实验界面能级图的可靠性奠定了坚实的基础。
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