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用最优驱动测量模式选择改进电阻抗断层成像的图像重建( Image Reconstruction Improvement with Optimal Driven-measurement Pattern Selection for Electrical Impedance Tomography )
L Yang H Wu K Liu B Chen J Yao
驱动测量模式影响着电阻抗层析成像(EIT)的图像重建质量。提出了一种基于机器学习的最优模式选择方法。它将驱动测量模式优化问题转化为模式识别问题。它简单、有效、快速。选择出的最优模式用于图像重建，旨在对图像重建进行改进。采用支持向量机(SVM)来选择最优模式。首先，生成模式候选。最优模式被认为是从它们中选择出来的。其次，介绍了最优模式选择方法。以估计的电导率分布为特征的支持向量机用于模式识别。最后，通过仿真和实验验证了该方法的有效性。仿真模型重建图像的平均成像相关系数(ICC)由0.7891提高到0.8492，提高了7.6163%。实验中，平均ICC由0.7541提高到0.7763，提高了2.9439%。
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