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直接探测同位旋违反暗物质的形状因子效应( Form factor effects in the direct detection of isospin-violating dark matter )
H Zheng Z Zhang LW Chen
同位旋破坏暗物质(IVDM)提供了一种可能的机制来改善最近直接探测实验中的紧张关系。对于IVDM,我们证明了基于丰中子靶核的直接探测实验的结果可能强烈地依赖于对称能的密度依赖性,而对称能是目前很大程度上未知的,并控制着反映丰中子核中中子和质子形状因子相对差异的中子皮厚度。特别是,利用Skyrme-Hartree-Fock计算得到的中子和质子形状因子,在JLab最新的PREX实验中子表皮厚度为208Pb的模型无关测量所设定的不确定度范围内,通过改变对称能得到的中子和质子形状因子,我们发现,对于中子-质子耦合比固定为fn/fp=-0.7的IVDM,形状因子效应可以使Xe基探测器(如XENON100和LUX)在CMDS-II(Si)约束的DM质量区对DM质子截面的灵敏度提高3倍,甚至对质量大于80 GeV的重DM的灵敏度提高一个数量级以上。我们的结果进一步表明,形状因子效应可以显著改变Fn/fp=-0.7的重IVDM用Xe基探测器的反冲谱。
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