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利用外置砷化镓尖的皮秒电光探测高速集成电路( Picosecond electro-optic probing of high-speed integrated circuits using external GaAs tip )
T Nagatsuma M Shinagawa external GaAs tip YAl5O12:Nd pulse-compressed mode-locked YAG:Nd laser high-speed integrated circuits electro-optic sampling 40 GHz picosecond electro-optic probing
利用脉冲压缩锁模Nd：YAG激光器和先进的GaAs探针，在高速集成电路上实现了外部电光采样。在高达40 GHz的频率下成功进行测量，电压灵敏度低于3 mV/√(Hz)。
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