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微动抑制中间电路测量串扰误差( Suppression of mid-circuit measurement crosstalk errors with micromotion )
Gaebler, J. P. Baldwin, C. H. Moses, S. A. Dreiling, J. M. Figgatt, C. Foss-Feig, M. Hayes, D. Pino, J. M.
中路测量和重置是量子计算中的关键基本步骤,但这些操作需要与选定的量子比特进行强交互,同时保持相邻量子比特的隔离,这在许多系统中是一个重大挑战。对于囚禁离子系统,用激光诱导荧光进行测量。来自探测光束的杂散光和来自被测离子的荧光可能是未被测量子比特退相干的重要来源。我们提出了一种利用离子微动来减少这些退相干源超过一个数量级的技术。我们用一种基于随机基准的新方法对性能进行基准测试,以估计邻近量子比特上的串扰误差的大小。利用霍尼韦尔系统模型H0,我们演示了在相邻量子比特上具有低串扰误差的选定量子比特上的测量和复位。
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