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高温系统中厚膜元件的研究( Investigations in Thick Film Components for High Temperature Systems )
Randall Kirschman
在不久的将来，能够在高温下工作的电子系统和电路将用于传感器和致动器应用，特别是在冷却不可能或非常困难的地方。开发高温传感器系统的第二个原因是避免传感器和信号处理电子设备之间的长信号通道，以提高EMC性能。采用厚膜杂化技术为构建高温电子器件提供了一种简便的方法。但通常厚膜元件不指定温度高于423 K。我们的目标是在较大的温度范围内表征和优化厚膜元件。为了获得有关高温行为的信息，有必要使用合适的测试技术。本报告将介绍一些方法，如线性试验或步进应力试验，允许加速寿命试验，以提取温度系数和退化行为。在厚膜的情况下，预选的结果很容易得到。以厚膜电阻器在773 K以下的测试结果为例。
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