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可靠性改善IGZO㏕英尺和ltp混合过程( Reliability improvement of IGZO㏕FT in hybrid process with LTPS )
M Aman Y Takeda K Ito K Yamamoto N Makita GOA hybrid-backplane IGZO low power consumption LTPO LTPS OLED pixel circuit reliability
采用基于p型低温多晶硅和n型铟镓锌氧化物薄膜晶体管的混合背板技术制作了AMOLED面板。利用该技术设计并制作了新型像素和门、N Rray(GOA)电路。利用IGZO和PüTPS实现了带CMOS逆变器的GOA。混合背板AMOLED面板可以在1到120赫兹之间工作，这使得高刷新率和低待机功率显示应用都成为可能。此外，通过改善IGZO TFT的均匀性和可靠性，AMOLED面板的寿命显著提高。利用IGZO和PüTPS实现了混合背板AMOLED面板的带CMOS逆变器的GOA。通过改进IGZO TFT工艺，显著提高了AMOLED面板的寿命。该面板可以在1到120赫兹之间的可变刷新率下操作，在1赫兹操作下节省70%的电力。
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『Sci-Hub|Scidown』相关参考文献
scidown 中国医学杂志2010年2月18日;362(7):590-9。doi: 10.1056 / NEJMoa0907355。2010年1月20日。研究支持，国立卫生研究院，校外;研究支持,美国。政府不下载
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