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用于检查场宽双折射干涉仪的视场灵敏度的有效框架( Efficient framework for the examination of the field of view sensitivity of a field-widened birefringent interferometer )
J Langille W Ward T Yan
本文提出了一种有效的方法,可以检测由多个叠层双折射板构成的场加宽双折射干涉仪的视场灵敏度。该方法利用琼斯矩阵框架,适用于光轴平行于板表面的双折射板。它忽略了菲涅耳效应和多次反射,但考虑了双折射分裂,没有忽略高阶角效应。该简化方法允许在存在组件之间的不对准和不匹配的情况下检查场加宽配置附近的光程差的角灵敏度。了解这些影响对于开发可用于成像目的的宽视场干涉仪至关重要。在这里,我们介绍了所开发的框架,并将其用于检验三元场加宽静态双折射干涉仪的视场效应,该干涉仪正在开发用于高层大气风测量。我们考察了器件对旋转失调、失配和波长偏移的灵敏度。用模拟的干涉条纹、Zemax光学设计软件输出的干涉条纹和实验室观测结果进行了比较,验证了该方法的有效性。计算结果还表明,该方法能准确地模拟界面处异常波和普通波之间不希望的耦合所引起的寄生条纹。
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