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阻抗谱和循环伏安法测定双层电容和电化学活性表面面积( Impedance Spectroscopy and Cyclic Voltammetry to Determine Double Layer Capacitances and Electrochemically Active Surface Areas )
M Schalenbach
电极的电化学活性表面积(ECSA)可以通过阻抗谱和循环伏安法的双层电容(DLC)测量来估计。在本研究中，选择光滑和多孔金电极（作为模型体系）对这两种方法的响应进行了测量和物理模型描述。我指出，扩散限制吸附过程显著地有助于测量响应，从而使DLCS的估计复杂化。阻抗在大多数情况下更适合于测量DLCs，因为有更高的频率可用，并且串联电阻和电容的贡献可以在频域中分别评估。在频域中的松弛特性为检验DLC估计的精度提供了一个有用的工具。抛光金电极的DLCs与几何表面积成正比。由这些测量结果确定了金在高氯酸中的比DLC为6±2μf/cm，这与文献报道的强散射数据的最低值一致。提出了一种简便的实验人员从阻抗谱确定电极电容的流程图。
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