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基于双重加权惩罚最小二乘的基线校正方法。( Baseline correction method based on doubly reweighted penalized least squares. )
Degang Song Liu Yaoyi Cai Chunhua Yang
在光学仪器上获取的光谱通常包含纯光谱和基线、随机噪声等不良成分。然而,基线的强度严重淹没了光谱,是光谱应用的主要限制。因此,基线校正已成为光谱应用中最重要的挑战之一。在本文中,我们提出了一种双重加权惩罚最小二乘法来估计基线。该方法利用原始谱和已建立谱的一阶导数作为相似性约束。同时,双重加权策略取得了较好的效果。针对自适应迭代加权惩罚最小二乘法加权规则的不足,提出了一种基于软符号函数的增强加权规则,该规则在频谱噪声较大时具有良好的性能。仿真结果表明,该方法具有较好的效果。该方法同样适用于拉曼光谱和近红外光谱,结果表明,该方法能有效地估计各种基线。
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