卷绕GaAs/In0.2Ga0.8As多层管的界面粘附和结构表征

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作者：scidown 发布时间：2021-07-09 17:23:19 文章标题：

卷绕GaAs/In0.2Ga0.8As多层管的界面粘附和结构表征( Interface Adhesion and Structural Characterization of Rolled-up GaAs/In0.2Ga0.8As Multilayer Tubes by Coherent Phonon Spectroscopy )

文章作者：

D Brick V Engemaier Y Guo M Grossmann G Li D Grimm OG Schmidt M Schubert VE Gusev M Hettich

文章简述：

本文对厚度为纳米、直径为微米的卷绕多层膜中的声子模进行了详细的实验和理论研究。我们将我们的结果与分子束外延生长的平面、展开的多层膜进行了比较。对于平面多层膜，实验获得的声模表现出超晶格的性质，与Rytov模型的计算结果吻合良好。卷起的超晶格管与平面结构相比表现出有趣的差异，这可以归因于单个管绕组之间的不完善粘附。一种传递矩阵方法，包括一个无质量弹簧，考虑了层之间的不完善粘附，得到了实验和计算的良好一致性，多达五个绕组。所有绕组之间具有充分机械耦合的区域可以通过它们的声模谱与单个绕组仅部分接触的区域区分开来。这允许以微米的空间分辨率对单个管进行空间分辨表征，其中可以识别具有不同界面粘合的区域。

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