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铁电隧道结存储器中过程诱导缺陷对极化开关的影响( Effects of Process-Induced Defects on Polarization Switching in Ferroelectric Tunneling Junction Memory )
K Lee S Kim JH Lee BG Park D Kwon
通过计算铁电隧道结(FTJ)存储器的剩馀极化(${P}_{mathrm{r}}）、矫顽场(${E}_{mathrm{c}}）和极化转换速度,研究了FTJ存储器的标度效应。通过对不同尺寸FTJ的直流隧穿电流和频率响应的分析,发现宽度的减小并不改变极化转换机制（畴形核极限）。然而，随着长度的缩放，畴壁扩展受限的开关由过程诱导的损伤边缘区域占主导地位，导致更大的{P}_{mathrm{r}}和更快的开关速度。
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『Sci-Hub|Scidown』相关参考文献
scidown J.乳制品科学。90:5115-5125 doi:10.3168/jds。2006-878©美国乳品科学协会，2007。接种剂对苜蓿青贮的影响:体外气体和挥发性脂肪酸的生产下载
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