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大深度和陡峭微结构碳化硅表面的地面精度评价( Evaluation on Ground Surface Accuracies of Large-Depth and Steeply Micro-Structured SiC Surfaces )
P Li X Liu J Chen
微结构可以用来增强具有附加功能的技术表面,这些功能正在推动许多工业应用领域的进步。然而,由于白光干涉测量技术的局限性,很难获得大深度、陡峭微结构表面的三维有效信息。为此,本文提出了一种结合遗传算法的交互式最近点法(interactive closest point,ICP)对二分法测量的微形貌进行配准,以评价微结构表面的微形态和微轮廓精度。首先,利用金刚石砂轮V形尖制备了微金字塔结构的SiC;随后,利用ICP方法构建了3个理想的点模型来匹配测量的点云;最后,利用非支配排序遗传算法-II(NSGA-II)对二分测量点云进行微形状和微轮廓误差的微对齐。结果表明,配准精度主要取决于理想轮廓点数,而配准效率则取决于理想点数。与传统的ICP匹配方法相比,NSGA-II对显微轮廓的配准精度提高了42.6%。实验结果表明,微磨削能够将微形和微轮廓精度控制在4%以内。
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